稳定是均值加上正负3个西格玛来确定

通常说的6西格玛的西格玛，与spc中ppk或者cpk计算时的那个标准差是不是一回事，那么为何又说要求cpk大于1.33，我知道 cpk=Zmin/3=MIN =1.33,μ是统计平均值，就是说这个要求是4西格玛了，对不对。

这就奇怪了，有的书上说什么1.5个s的飘移，μ与规格值存在1.5个s的飘移，而六西格玛是X-+6s,X是规格值，那那这个s西格玛怎么得到的，还是说与spc的通用，

都是正态分布，一个以规格值为对称轴，事实是，对称轴却是统计平均值，若以其为基准，μ+-6s 就应该是所说的6西格玛，只需要你控制的那个特性不超过LSL和USL即可了，也即LSL μ+-6s USL,是不是这就是传说中的6西格玛，狭义范围下的西格玛的解释。

我的表述有点问题，简单一点，为何说有的点超过控制线，但没有超上下规格线，你就说不受控了，制程不稳了，六西格玛，奶奶的，到底是个什么东西，不要说什么100million中只有3.4个不合格，我不需要这种解释，从数学的角度，所谓的六西格玛是要求以控制限为区间要求什么99.999967%，还是以规格上下限为区间要求99.999967%，对称轴是什么，规格值X，还是统计平均值μ,六西格玛是不是μ+-6s ，
非常感谢你的解释，我知道了不良是以其是否超出规格来判断的，即六西格玛的上下限。

可是过程稳定是均值加上正负3个西格玛来确定，这里就是说只要去你的过程达到3西格玛的水平，是不是可以这样说。

还有我想借此机会再请教您问题，为什么公司在做那个spc时，他的控制线是UCL和LCL，即X+-A2R ,即均值 +- A2(常数组容是5，取0.58)极差的均值，然后以此判断过程是否稳定，这个与您之前说的以正负3个西格玛来划分差别很大，明显是不一样的，

还有我们做的ppk时没有做过X-bar R的管制图，全部是CPK的，我想知道为何，还有spc的管制图到底怎么做的，那个标准差s是用你所说总体标准差吗，如果要是正负3个西格玛，是不是就用均值加减3个西格玛作为上下控制线。